技术文章
TECHNICAL ARTICLESX-射线荧光测厚仪是一种功能强大的测量仪器，其用途广泛，可以应用于多个行业和领域，主要用于测量各种材料的厚度。X-射线荧光测厚仪进行测量时，主要依赖于X射线荧光原理。主要为以下的几个步骤：激发荧光：当被测物体被X射线照射时，材料中的原子会吸收X射线能量，随后发出特定波长的荧光。这种荧光信号与材料的厚度之间存在一定关系。检测荧光：测厚仪的探测系统会接收到这些荧光信号，并通过光电传感器将荧光信号转化为电信号。这一转化过程使得测量设备能够处理和分析荧光信号。信号处理与计算：经过一系...
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