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T 450plus 膜厚仪镀层测试仪高性能XRFd

产品简介

T450plus系列为满足生产管控和研发领域中高精度镀层厚度或精确材料成分分析而研制的一款多用型X荧光光谱仪,可为任何应用提供最佳性能的仪器选择。

产品型号:
更新时间:2024-10-08
厂商性质:生产厂家
访问量:77

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品牌其他品牌价格区间5万-10万
产地类别国产应用领域环保,化工,建材,电子,综合

T450plus系列高性能多用型XRF

T 450plus 膜厚仪镀层测试仪高性能XRFd

涂镀层分析

RoHS检测

元素分析

 

T450plus系列为满足生产管控和研发领域中高精度镀层厚度或精确材料成分分析而研制的一款多用型X荧光光谱仪,可为任何应用提供最佳性能的仪器选择。

该系列仪器采用微聚焦增强型射线管和数字多道脉冲信号处理技术,同时搭载增强FP算 法软件与变焦装置,再加上高性能大面积探测器,无论在检测微小样品和凹槽的膜厚性 能,还是RoHS和元素分析方面,均具备出色的重复精度,这也是它广受客户、研究所等机构欢迎的原因。

技术参数

型号

T450 plus

T450S plus

成分分析检测

S(16) - U(92)

Al(13) - U(92)

涂镀层分析

Li(3) -U(92)

ROHS检测

标配,低检出限可达2ppm

标配,低检出限可达1ppm

算法

增强型FP算法

分析软件

可同时分析15层镀层,24种元素

射线方向

从下往上

X射线发生装置

微聚焦增强型射线管

探测器

高性能Si-Pin半导体探测器

FAST SDD探测器

高压

0-50KV智能程控高压系统

准直器

φ0.3mm(φ0.2mm)/φ0.5mm/φ3mm 多准自动切换

样品观察

工业 CCD 高清摄像头

对焦方式

手动对焦

放大倍数

光学30-50X,数字放大40-160倍

移动平台

微米级移动平台

操作环境温湿度

10~35℃,湿度≤70%

工作电源

交流220±5V

安全系统

多维散热系统,多重辐射安全系统

性能优势

高稳定微聚焦集成系统

采用自主研发设计的高稳定性微聚焦增强型射线管和聚焦光路系统,最小测量点可达0.25mm。

搭载高性能探测器

 

分辨率低至129eV±5eV,能量线性和能量分辨率俱佳,具有更高的稳定性和精度。

高精度

含量检出限可达1ppm,厚度 检出限可达1nm。

变焦补偿算法

可对各种异形凹槽件进行无损检 测,凹槽深度范围 0-25mm。

使用寿命长

采用自主研发的多维散热系统,同时同样的测试面积功率更低,整机与 射线管使用寿命更长。

 

应用领域

T 450plus 膜厚仪镀层测试仪高性能XRFd快速分析

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T 450plus 膜厚仪镀层测试仪高性能XRFd

保检测解决方案

欧盟ROHS指令-2011/65/EU

REACH指令

无卤指令[IEC61249-2-21]

玩具En71指令

美国CPSIA消费品安全改进法

IEC62321标准

China-RoHS国推自愿性认证

GB/T26125-2011

T 450plus 膜厚仪镀层测试仪高性能XRFd

T 450plus 膜厚仪镀层测试仪高性能XRFd

T 450plus 膜厚仪镀层测试仪高性能XRFd


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