荧光X射线镀层厚度测量仪测厚仪

FISCHER（菲希尔）XAN120膜厚仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪（EDXRF）。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层。
XAN120测量准确，使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到*的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。
无论您想测量未知样品还是测定未知材料，XAN? 120 配合优异的菲希尔 WinFTM? 运行软件都是您正确的选择。
FISCHER（菲希尔）XAN120膜厚仪采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN 120 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统，将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测量。
可测量．单层．双层，合金层等多种镀层．